品智创思白光干涉仪三维轮廓光学测量仪检测晶圆单晶硅亚表面损伤

   日期:2025-09-16 06:21     来源:北京品智创思精密仪器有限公司    作者:刘经理13439993923    浏览:0    
品牌:品智创思
采样流量范围:0.43*0.32mm
最近工作距离:3.4mm
电源:220V
解析度:0.1nm
功率:1000W
重量:50kg
型号:PZ-WLI-150
放大倍数:10 X 20X 50X
测试范围:Z轴 45mm
测量精度:0.1%
工作电压:220V
测量时间:10s
装箱数:1
测量对象:晶圆单晶硅
材料:金属
是否支持加工定制:否
光源:白光LED灯箱
材质:光学
是否进口:否
操作方式:自动
可售卖地:北京;天津;河北;山西;内蒙古;辽宁;吉林;黑龙江;上海;江苏;浙江;安徽;福建;江西;山东;河南;湖北;湖南;广东;广西;海南;重庆;四川;贵州;云南;西藏;陕西;甘肃;青海;宁夏;新疆
















 
北京品智创思精密仪器有限公司    13439993923
 
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